上海欣崇电子科技有限公司
Shanghai XinChong electronic technology Co., LTD
专注电子测量领域提供专业测试系统方案服务商
全国服务热线： 021-3126 6656
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021-3126 6656试验目的：评估工艺的稳定性，加速缺陷失效率，去除由于天生原因失效的产品
测试条件：在特定时间内动态提升温度和电压对产品进行测试
失效机制：材料或工艺的缺陷，包括诸如氧化层缺陷，金属刻镀，离子玷污等由于生产造成的失效
参考标准：JESD22-A108-A；EIAJED- 4701-D101
测试对象：PCB板（软板、硬板、混合板、多层板）、焊料、电子元器件等.
试验条件：85℃ 85%R.H、偏压（50V/100V/1000V）
试验方法：配套绝缘电阻（CAF）测试系统（SIR-8000）一起使用。将样品放入温湿度箱中，通过测试线与绝缘电阻测试系统连接。
绝缘电阻（CAF）测试系统（SIR-8000）技术指标：
| 测试电压 | 300/500/1000V |
| 通道数 | 32/64/96/128/256CH |
| 电阻测量范围 | 1*106—1*1013Ω |
| 电阻测量精度 | 1*106—1*1010Ω≤±5.0%（测试电压5V） 1*1010—1*1011Ω≤±10.0%（测试电压5V） 1*1011—1*1012Ω≤±15.0%（测试电压50V） 1*1012—1*1013Ω≤±30.0%（测试电压100V） |
| 实时电流监测范围 | 0.1μA—500μA |
| 实时电流检测速度 | 10次/秒 |
参考标准：IPC-TM-650 (2.6.3.7) ; IPC-TM-650 (2.6.14.1)
